J-Ras离子迁移试验装置 ECM-500-东莞市赐金电子科技有限公司

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J-Ras离子迁移试验装置ECM-500

设备简介：

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE），

经过长时间的测试（1～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录阻抗变化状况，故又

叫做 CAF 试验或绝缘电阻试验箱，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

性能优势：

1.具备高、低电压测试自动切换功能，电压稳定，精度高（±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V (计测偏压精度)）
2.各通道可以独立设定不同电压
3.每个通道均有电流过载保护，可保护设备及测试样品
4.模组化设计，轻便，占地小，易维护
5.TRIAXIAL三重隔离线设计，可有效屏蔽干扰信号

6.可以搭配恒温恒湿箱、快速温变箱（有湿度）、高加速试验箱HAST测试使用。